2013年3月26日，信息学院拟购的“原子力显微镜”购置论证会在微纳电子大厦308会议室召开，会议由信息学院科研交流办公室孙琰老师主持，设备部设备管理办公室相关工作人员参加了会议。

原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），一种可用来研究固体材料表面结构的分析仪器，它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质，具有纳米级的分辨率。原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足，广泛应用于材料、化学、地质、生命科学等研究领域。目前校内同类设备使用效率较高，机时饱满。专家组根据申请人开展硅基和碳基纳电子学研究的需要，认为该仪器是检测材料表面形貌与电学特性、进行纳米加工的关键设备之一，且购置经费已落实，运行经费有保障，一致同意通过“原子力显微镜”的可行性论证。设备购置后将在满足申请人课题组科研需要的同时对校内外开放使用。

“原子力显微镜”的购置由信息学院傅云义教授申请，经费来源为02国家科技重大专项与自然科学基金经费。可行性论证专家组由国家纳米中心褚卫国研究员、孙连峰研究员，北京大学信息学院廖怀林教授、王漪教授以及物理学院张朝辉教授组成。