2013年9月18日，化学学院分析测试中心拟购的“X射线光电子能谱仪”购置可行性论证会在我部会议室召开，会议由实验室与设备管理部副部长刘克新教授主持。

         “X射线光电子能谱仪” （XPS）由化学学院分析测试中心谢景林高级工程师申请购置，经费来源是985三期设备费。XPS是一种基于光电效应的电子能谱，它利用X射线光子激发出物质表面原子的内层电子，并通过对这些电子进行能量分析获得能谱。XPS主要用于表面元素定性和半定量分析，配备相应的附件还可以进行紫外光电子能谱、粒子散射谱和俄歇电子能谱等多种表面分析，同时具备微米级微区分析和纳米级深度剖析功能，近来还在原位催化反应测量等方面发挥重要作用。拟购设备各项指标与功能先进，满足申请人所在分析测试中心相关测试服务的需要。目前我校化学学院分析测试中心只有一台XPS，使用年限较长，机时饱满，无法满足中心不断增长的测试需求。专家组根据申请人所在分析测试中心开展XPS能谱测量相关服务的需要，认为该设备是进行物质和材料表面化学组成和结构分析，特别是纳米尺度表面元素和结构分析测试的重要设备之一，将对北京大学多个学院的科研测试提供重要的帮助。

         该仪器设备购置经费已落实，运行经费有保障，专家组一致同意通过“X射线光电子能谱仪”的可行性论证。可行性论证专家组由清华大学分析测试中心朱永法教授，清华大学化学系姚文清高工，北京师范大学分析测试中心吴正龙副研究员，北京大学化学学院吴凯教授、鞠晶高级工程师组成。