我校信息科学技术学院购置的美国J.A.Woollam公司的“椭偏仪”于2021年4月29日到货。该设备由国家发改委国家集成电路产教融合创新平台项目经费支持，将用于跨尺度微区薄膜厚度及光学常数的测量和分析。拟安装在微纳电子大厦101室，责任教授为罗葵高级工程师。

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