2021年7月6日，信息学院拟购的“半导体测试系统”和“高速脉冲测试系统”购置可行性论证会在勺园5乙楼305会议室召开，由实验室与设备管理部副部长周勇义主持。

　　拟购的“半导体测试系统”是一套检测半导体器件性能参数的系统，可进行高精度IV 和 CV 测量及快速高电压脉冲测量。“高速脉冲测试系统”是一套可产生复杂的激励信号并可以进行多路响应信号的测量和分析的系统。目前校内同类设备使用率高，机时饱满。专家组根据申请人团队研究需求，认为拟购的“半导体测试系统”采样快速、可靠性高，满足申请人搭建先进表征测试平台，实现复杂的纳米尺度器件与材料表征的研究需求。拟购的“高速脉冲测试系统”中其示波器具有128GS/s采样率，10GHz模拟带宽的功能，波形发生器具有12GS/s采样率、5GHz带宽的功能，均满足申请人所在实验室在高速存储和逻辑器件领域的实验要求。上述设备的购置将对北京大学在纳米尺度器件等相关领域的发展发挥重要作用。

　　专家组一致同意通过上述设备的可行性论证，设备购置经费已落实，经费来源为“科研经费”，由信息学院王宗巍助理研究员申请。设备购置后将主要用于微纳电子新器件、可靠性与表征技术等研究工作，预计年使用机时均不低于3000小时。可行性论证专家组由北京理工大学物理学院孙林锋教授，清华大学集成电路学院高滨副教授，北京大学信息学院黎明研究员、王玮教授、贺明研究员组成。