申请人所在实验室是校级平台，主要从事电子显微学及谱学方面的研究，目前承担了面向全校各个院系的电子显微学及电子能量损失谱测量的研究任务;研究需要实现纳米尺度甚至原子尺度空间分辨率，在研究的过程中，需要利用“透射电镜的双倾斜样品台”来实现晶体样品的轴向调整以实习单晶样品绳子结构色散及态密度测量，而要实现这些目的，就需要“透射电镜的双倾斜样品台系统”具备“双倾斜能力，其中a转角和B转角最大为15°，支持两者同时倾转，倾转角度控制精度为 0.1°”的技术参数，这是因为只有样品台支持双倾转才能在样品上实现特定晶向的色散曲线及态密度测量;目前该仪器机时非常紧张，平均每日测试机时超过16 小时。但配备的双倾样品杆数量仅仅有4个，因此每天都需要更换样品罐，每次更换样品罐后4小时内电镜不能使用(需要抽真空和等待温差变小)，这严重限制和降低该仪器的使用效率和开放机时。为了缓解电镜机时紧张的问题，提高仪器有效机时，在没有新增电镜设备购置计划的情况下，最有效的办法就是增加双倾样品杆数量。因此，配备更多的样品杆对于该设备的高效使用至关重要。经过调研，目前只有Nion 公司的“Double-tilt(DT)sample cartridge”能够满足研究的需要;该样品台需要在 Nion 电镜上使用，而样品台只有Nion 公司
能生产和销售;因此，特申请以单一来源的方式进行采购。

    单一来源公示2024年5月20日到2024年5月27日。