申请人所在实验室主要从事纳米电子材料、器件与集成方面的研究，目前承担了器件表界面原位真空互联制备与表征的研究任务；研究需要实现二维量子材料及器件的连续变温下的电学性能测试，在研究的过程中，需要利用“变温电学测试系统”来实现连续变温下的极低噪声电学测试，而要实现这些目的，就需要“变温电学测试系统”具备拥有适用变温探针可在150K内连续变温测试无需二次扎针，以及拥有＜10fA@10V漏电流的技术参数，这是因为随着材料和器件结构越来越小，这些小型结构只能承受极低的激励电流和电压，使可测量信号降低到接近典型仪器和实验装置的噪声本底，如果电学测试噪声过大会掩盖真实测试信号，容易造成无法检出或无法准确定量真实测试信号，无法保证检测结果的准确性，而且如果变温测试需要经常的重复扎针，既大大降低了测试效率，也会因此降低整体测试的准确性；另外，为了实现原位生长和测量，还需要“变温电学测试系统”能够与生长器件的真空系统构建原位真空互联。经过调研，目前只有Lake Shore Cryotronics, Inc.公司的TTPX型“变温电学测试系统”能够满足研究需要；因此，特申请以单一来源的方式进行采购。

    单一来源公示2024年8月1日到2024年8月8日。